▲ ▲17일 열린 SPM(Scanning Probe Microscope, 주사탐침현미경) 포럼에 관계자 200여명이 참석했다. . ▲17일 열린 SPM(Scanning Probe Microscope, 주사탐침현미경) 포럼에 관계자 200여명이 참석했다.

나노기술 발전에 나노측정·분석장비의 중요성이 커지고 있는 가운데 이 분야에 대한 연구개발 동향과 장비 국산화 사례가 소개됐다.

한국산업기술평가관리원(KEIT·원장 서영주)과 나노기술연구협의회, 한양대학교는 17일 오전 한양대학교 HIT 6층 대회의실에서 SPM(Scanning Probe Microscope, 주사탐침현미경) 관련 산·학·연 전문가 및 사용자 200여명이 참석한 가운데 ‘SPM 포럼’을 개최했다고 밝혔다.

SPM은 원자, 분자 수준의 분해능을 갖는 표면 계측장비로서 나노특성분석에 널리 활용되고 있다.

이번 포럼에는 KEIT가 연구개발비를 지원한 SPM 과제의 연구성과 및 SPM 기술동향에 대한 발표와 SPM 응용기술의 발전방안에 대한 패널토의가 진행됐다.

특히 이날 포럼에는 세계 최고 수준의 비접촉식 초고속 원자현미경(기존 대비 측정속도 3배 이상 향상)을 개발한 ㈜파크시스템스의 ‘차세대 원자현미경’ 연구성과가 발표되어 참석자들의 주목을 끌었다.

이 기술은 KEIT가 산업융합원천기술개발사업의 일환으로 지난 2009년 부터 45억원의 연구개발비를 지원해 거둔 성과다. 파크시스템스는 세계 최고 수준의 초정밀 원자현미경을 개발, 전량 수입에 의존하던 제품을 국산화하고 세계 주요국에 수출하고 있다.

KEIT 우창화 산업기술본부장은 “나노기술 발전에 있어서 나노측정·분석·장비분야에 대한 중요성은 갈수록 커지고 있다”며 “현재의 성과에 만족하지 않고 앞으로도 SPM분야뿐만 아니라, 여타 나노측정·분석 장비 분야에서도 세계 시장을 선도할 수 있는 연구개발 지원을 위해 최선을 다할 것”이라고 밝혔다.