한국표준과학연구원(KRISS, 원장 강대임)은 김종안 박사팀이 개발한 신개념 디스플레이 기판 초고속 측정기술이 반도체·디스플레이 기판 검사 장비 전문기업인 쎄미시스코(대표 이순종)에 이전됐다고 8일 밝혔다.

이번에 이전된 디스플레이 기판 초고속 측정기술은 측정 기판의 두께를 나노미터(10억분의 1m)까지 측정 가능한 기술이다. 초당 최대 10만 번의 측정이 가능하고, 고속 이송 시 측정 기판에 진동이 발생하더라도 이와 무관하게 정확하고 정밀한 측정 결과를 도출할 수 있다.

또한 레이저 빛을 이용한 광학 측정방식으로 대상에 접촉하지 않고 측정이 가능하다.

특히 공정라인의 모든 디스플레이를 별도의 이동 없이 실시간으로 측정할 수 있게돼 제품의 전수조사가 가능해짐으로써 품질향상 및 불량률 감소를 이룰 수 있을 것으로 기대된다.

쎄미시스코 이순종 대표는 “디스플레이의 기판은 물론 각종 필름형 소재에 제약 없이 적용이 가능하여 향후 디스플레이의 기판 검사관련 원천 기술이 될 것”이라고 기대했다.

김종안 표준연 박사는 “해당기술은 장기적으로 시장의 변화에 가장 앞장서는 디스플레이 공정진단의 핵심기술이 될 가능성이 높다.”며 “산업체에서 보다 효과적인 활용이 가능하도록 기본기술료의 부담을 줄이고 제품 매출액의 2.5 %에 해당하는 경상기술료를 요청한 상태이다”라고 말했다.