한국기계연구원(원장 이상천)이 개발한 나노측정기술이 국제전기기술위원회 (International Electrotechnical Commission, IEC)의 국제표준 기술로 채택돼 관련 시장을 주도할 전망이다.

한국기계연구원은 IEC가 이학주 박사(사진)팀이 개발한 나노측정기술 ‘띠굽힘시험법’을 미세전자기계시스템(MEMS) 분야 국제표준으로 선정하고, 최근 웹사이트(http://www.iec.ch)에 사전공표했다고 지난 1일 밝혔다. IEC 국제표준명은 ‘띠굽힘 시험법을 이용한 박막의 인장물성 측정’ (IEC 62047-8 Ed. 1.0)으로서 오는 4월 책자로 발간될 예정이다.

이 박사팀이 교육과학기술부 21세기 프론티어연구개발사업의 지원으로 개발한 나노측정기술인 ‘띠굽힘시험법’은 길이가 길고 두께가 얇은 마이크로·나노 구조물을 변형시키며 하중 등을 간편하고 정확하게 측정하는 방법으로, 측정의 자동화는 물론 관련 제품들의 신뢰성 향상에 크게 기여할 수 있다.

특히 국내에서 개발된 나노측정기술이 국제표준으로 공표된 것은 이번이 처음으로, 나노측정 원천기술의 국제표준 선취권을 확보함에 따라 우리나라가 세계 나노기술 기반 확립을 주도하는 계기를 마련하게 됐다는 평가다.

이학주 박사는 “지금까지는 나노 구조물의 측정이 어려워 마이크로·나노 구조물 상용화에 걸림돌이 돼왔으나, 이번 국제표준 채택으로 신뢰성 문제 해결은 물론 우리나라가 13조5,000억원 규모의 세계 나노측정기술 산업을 주도하는 계기를 마련하게 됐다”고 밝혔다.

한편 이학주 박사팀은 10㎚급 나노측정 원천기술을 보유하고 있으며, 이외에도 미소 기둥 압축시험법, 박막의 열팽창계수 측정법을 개발하는 등 박막의 기계적 물성 측정법 분야에서 기술표준원의 협조로 국제표준을 주도하고 있다. 이 박사팀의 연구성과는 지난해 교육과학기술부의 ‘국가연구개발 우수성과 100선’에 선정된 바 있다.